MPI Automatisierte Probe Systeme

Beschreibung

TS2000 ist eine automatische Probe Station, bei der der Chuck einer Raumtemperatur von 25 bis 300 °C ausgesetzt werden kann. TS2000-SE ist eine weiterentwickelte Probe Station mit automatischer Wafer Einzelbeladung, die mit einem erweiterten Temperaturbereich von -60 °C bis + 300 °C konfiguriert werden kann.
Die Abkürzung „SE“ steht für das MPI ShielDEnvironment™ und ist eine lichtundurchlässige lokale Abschirmung gegen elektromagnetische Störfelder, die eine rauscharme Messung gewährleistet.

MPI TS2000 automatisches Wafer Probe System
MPI TS2000-SE automatisches Wafer Probe System mit ShielDEnvironment
MPI TS2500-RF vollautomatisches Wafer Probe Station für Hochfrequenzapplikationen
MPI TS3000 automatisches Wafer Probe System
MPI TS3000-SE automatisches Wafer Probe System mit ShielDEnvironment

Datenblätter, Handbücher und Downloads

Hersteller